▲Atomic Force Microscope (AFM):
為奈米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優於光學繞射極限1000倍。AFM是在奈米尺度操作材料，及其成像和測量最重要的工具。資訊是通過微懸臂感受和懸臂上尖細探針的表面的「感覺」來收集的，而壓電元件可以控制樣品或掃描器非常精確的微小移動，用導電懸臂(cantilever)和導電原子力顯微鏡附件則可以測量樣品的電流偏壓；更高級的儀器則可以測試探針上的電流來測試樣品的電導率或下表面的電子的移動，不過這種測試是非常艱難的，只有個別實驗室報導了一致的數據。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。由於原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。
▲位置:生物影像實驗室 H209
▲指導教授: 劉哲文 副教授 Dr. Je-Wen Liou ___03-8565301 ext. 2428
